14.03.2023-cü il tarixində Yaponiyanın Osaka Prefektura Universitetinin professoru Yong-Gu Şim BDU-nun əməkdaşları, gənc tədqiqatçıları və tələbələri üçün keçirilən elmi seminarda “Spektroskopik ellipsometriyanın əsasları və onun tətbiqi” (Fundamentals of spectroscopic ellipsometry and its application) mövzusunda çıxış etmişdir.
Spektroskopik ellipsometriya nazik təbəqələrin optik sabitlərinin və struktur parametrlərinin qeyri-dağıdıcı ölçülməsi üçün güclü bir vasitədir. Spektroskopik ellipsometriya, nazik təbəqə nümunəsindən bucaq altında əks olunduğu zaman işığın polyarlaşma vəziyyətinin dəyişməsinə əsaslanır. Spektroskopik ellipsometriya vasitəsi ilə nazik təbəqə, interfeys və səth morfoloqiyasının qalınlıqlarını, həmçinin nazik təbəqələr üçün n və k kimi optik sabitləri təyin etmək mümkündür. Bu mühazirədə professor Yong-Gu Şim spektroskopik ellipsometriyanın əsasları və onun tətbiqi barəsində ətraflı məlumat vermişdir. Spektroskopik ellipsometriyanın əsasları hissəsində işığın polyarlaşmasının əsasları izah edilmişdir. Ardınca spektroskopik ellipsometriya üçün prinsiplər, məlumatların təhlili üsulları və tətbiqləri haqqında ümumi məlumat verilmişdir.
Daha sonra Yong-Gu Şim verilən sualları cavablandırmışdır.
